TriStar II 3020 3埠全自動比表面積分析儀
產品簡介
TriStar II 系列比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測定儀是全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀,能夠提高品質控制分析的檢測速度,並提供高精度、高解析度和資料處理功能以滿足絕大多數研發的需要。

技術特點
  • 同時和獨立分析三個樣品 - 三個BET表面積分析時間少於20分鐘
  • TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測定儀可用于微孔分析
  • 標配一個專用的飽和壓力介面,可選多種規格杜瓦瓶以及樣品管
  • TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測定儀可升級成高真空系統,用於低比表面積以及微孔的測試
  • 可以測定、計算或手動輸入自由空間
  • TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測定儀可以使用任何氣體,死體積測試可以不使用氦氣
  • 可選滿足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的軟體。 IQ和OQ認證服務,確保該系統的準確性、可靠性和一致性。這些服務保障了分析記錄的完整性
  • TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測定儀配置了液氮液面保持裝置---液氮等溫夾,以確保整個分析過程中等溫夾套以下的溫度恒定 
  • 儀器可同時進行三個樣品的分析,滿足測試量大的用戶,不是多個工作站的"排隊分析",每個分析站都配有獨立的感測器,保證三個分析站分析的同時進行
  • 配備了大容量杜瓦瓶,結合專利的液氮等溫夾,保證至少60小時無人介入操作。最大無上限的連續分析             
  • 儀器套裝軟體含了目前所有的資料處理方法:
單點和多點BET比表面積,Langmuir比表面積
Temkin and Freundlich等溫線分析
多種厚度層公示計算的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積對孔徑的分佈
孔體積和用戶指定孔徑範圍內的總孔體積
MP法的微孔孔徑分佈和t-plots、αs-plots得到的微孔總孔體積
f-Ratio plots,D-R,D-A
H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正)
DFT密度函數理論,包括NLDFT等
 
TriStar II Plus 型號新功能:
  • 獨特的耐腐蝕的不銹鋼歧管,用於高精度的氣體管理。
  • 可選氪氣選項,以用於非常低的比表面測試。
  • 直觀的MicroActive 軟體使使用者能夠用對話模式分析等溫線資料,更快地獲得比表面與孔徑資料。
  • 更強的能包含壓汞資料的檔添加疊加刪除功能(最多25 個)。
  • 使用者自訂報告選項允許直接建模。
  • 強大的Python 指令碼語言,允許使用者開發TriStar II Plus 軟體標準報告庫擴展程式。
  • 創新的儀器顯示幕,方便的儀器性能指標和維護資訊即時顯示功能。
  • 能夠在碳微孔分析中同時利用CO2 與N2 兩個等溫線通過NLDFT 理論來計算全範圍孔徑。
 
產品應用
TriStar II比表面儀及孔徑分析儀,孔徑測定儀借助于氣體吸附原理(典型為氮氣)可進行等溫吸附和脫附分析,用於確定比表面積、微孔孔體積和孔面積、中孔體積和面積、總孔體積等。
適用於各種材料的研究與產品測試,包括測量沸石、碳材料、分子篩、二氧化矽、氧化鋁、土壤、黏土、有機金屬化合物骨架結構等各種材料。