非接觸式-片電阻和膜厚測量儀 (Lab2020)
片電阻(Rs)測量
EddyCus® TF lab 系列是特別設計,為在玻璃、晶圓、,塑膠或箔片上的導電薄膜的測量系統,為單點非接觸式的方法,即時測量薄厚和片電阻值。這系列的儀器也適用於即時測量導電材料的厚度,例如金屬箔片、金屬片等。

 

應用面:
·         建築用玻璃
·         觸碰螢幕和平面顯示器
·         OLED and LED 應用
·         Smart-glass應用
·         透明抗靜電箔片
·         Solar cell 太陽能電池
·         除冰和加熱應用
·         石墨稀電性測量
           ITO/PET
           Ag nanowires