非接觸式-片電阻和膜厚測量儀 (Mapping)
片電阻(Rs)測量
EddyCus® TF Mapping 系列是特別設計,為在玻璃、晶圓、,塑膠或箔片上的導電薄膜(TCO)的測量系統,為單點自動化的非接觸式方法,測量2D mapping 片電阻值和膜厚的分布。例如ITO, 金屬箔片、金屬片,碳纖維材料等。
 
應用面:
·         建築用玻璃
·         觸碰螢幕和平面顯示器
·         OLED and LED 應用
·         Smart-glass應用
·         透明抗靜電箔片
·         Solar cell 太陽能電池
·         除冰和加熱應用
·         石墨稀電性測量
·         ITO/PET
·         Ag nanowires