變溫原子力/ 穿隧顯微鏡VT AFM/STM

變溫原子力/  穿隧顯微鏡

RHK变温-變磁場掃描探针顯微镜系统(STM/AFM)具有以下五個特點:

1)SPM掃描过程中連續变化磁场,且無需将SPM探针退回;

2)所施加的磁場為面内的,最高達10,000Gauss;樣品尺寸约1cm;

3)利用电磁铁提供可逆、連續变化的磁場

4)磁场强度精確可控,重複性極好;

5)磁场的施加對SPM掃描精度、分辨率、稳定性和振动隔離没有任何影响。