潘氏低溫原子力/ 穿隧顯微鏡 LT AFM/STM
潘氏低溫原子力/  穿隧顯微鏡

潘式低温掃描探针顯微镜析系统是由美國RHK Technology公司制造的,主要特點包括:
- PAN STM/AFM掃描頭體積極小(2.96”X1.55”)
- 樣品X-Y-Z方向的大範圍移動(5mmX5mmX10mm)
- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多種範圍
- 内置彈簧和渦流阻尼减震系统,原位针尖与樣品更换
- 兼容多種Flow式或Bath式低温恒温器与磁體
- 与RHK最新全數字R9控制器一同使用
適用于拓扑绝缘体、低温超導、表面结構、电學测量等表面科學研究中。