低溫原子力/掃描穿隧顯微鏡LT AFM/STM
低溫原子力/掃描穿隧顯微鏡

QuadraProbe四探针表面分析系统確保樣品和四個STM探针都在10K下長时间稳定工作,每個探针的分辨率都達到了原子级分辨。在四個探针上方配有高分辨的SEM,用于對探针的粗定位与導航。樣品分析室中還選配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司将最先進的R9控制器配置到四探针系统中,用户可以對四個探针的獨立控制。